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簡(jiǎn)要描述：研究級(jí)正置材料顯微鏡 Axioscope 可對(duì)晶粒尺寸、物相含量夾雜物以及膜層厚度進(jìn)行測(cè)量等；能進(jìn)行金相學(xué)、偏光成像，為材料科學(xué)提供完整解決方案。通過(guò) C-DIC（圓偏光微分干涉襯度）觀察方式，可凸顯樣品表面如劃痕等微小浮凸結(jié)構(gòu)（100um）。
產(chǎn)品型號(hào)： 廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-07-21訪 問(wèn) 量：666詳細(xì)介紹
研究級(jí)正置材料顯微鏡 Axioscope系列適合于對(duì)數(shù)據(jù)質(zhì)量和可重復(fù)性要求較高的檢測(cè)工作。
產(chǎn)品功能：可對(duì)晶粒尺寸、物相含量夾雜物以及膜層厚度進(jìn)行測(cè)量等；能進(jìn)行金相學(xué)、偏光成像，為材料科學(xué)提供完整解決方案。
研究級(jí)正置材料顯微鏡Axioscope核心參數(shù)：
光學(xué)系統(tǒng)：無(wú)限遠(yuǎn)復(fù)消色差校正與反差增強(qiáng)型光學(xué)系統(tǒng)。
物鏡：5x、10x、20x、50x、100x，可選 1.25x、2.5x、40x、150x。
目鏡：10x/23。
觀察功能：反射光有明場(chǎng)、ADF 高級(jí)暗場(chǎng)、圓偏光、微分干涉、熒光。
物鏡轉(zhuǎn)盤：6孔。
應(yīng)用案例：通過(guò) C-DIC（圓偏光微分干涉襯度）觀察方式，可凸顯樣品表面如劃痕等微小浮凸結(jié)構(gòu)（100um）。
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